IEC60884-1 rys. 27 i rys. 42 Aparatura do badań uderzeń w niskich temperaturach do badań samodzielnych izolacji szpilki, wtyczki

IEC60884-1 rys. 27 i rys. 42 Aparatura do badań uderzeń o niskiej temperaturze do badań samodzielnych izolacji szpilkowych, wtyczek i gniazdek

1Wprowadzenie:

Urządzenie do badań uderzeniowych w niskich temperaturach jest zaprojektowane zgodnie z normą IEC 60884-1 pkt 24.4/rysunek 27 i pkt 30.4/rysunek 42, pkt 8 IEC 60811-1-4.5, VDE0620, GB2951.4, GB2099.1 pkt 24.4 i 30.4 rysunek 27 i rysunek 42 itp.Urządzenie do badań uderzeniowych w niskiej temperaturze powinno pracować z komorą niskiej temperatury i powinno być umieszczone na gumowej podkładce gąbkowej o grubości 40 mm.

Ten urządzenie jest przeznaczone do przeprowadzenia badania uderzenia z wysokości 100 mm z ciężarem spadkowym 100 g lub 1000 g na rękawki izolacyjne,wtyczki i gniazda przy niskiej temperaturze w celu spełnienia wymogów badań określonych w pkt 24 normy IEC 60884-1.4 i 30.4, po badaniu nie widać żadnych pęknięć osłon izolacyjnych z normalnym lub poprawionym wzrokiem bez dodatkowego powiększenia i nie wykazuje się żadnych uszkodzeń na próbce.

Urządzenie jest również w stanie przeprowadzić próbę uderzeń od 100 mm na kable zasilania, elastyczne kable i przewody z izolacją PVC i osłonami w niskiej temperaturze,masę ciężaru spadającego określa całkowita średnica kabla (zob. poniższa tabela 1 i tabela 2), badanie może spełniać wymagania normy IEC60811-1-4 pkt 8.5 i rysunek 1.bez dodatkowego powiększania nie widać żadnych pęknięć osłon izolacyjnych przy normalnym lub poprawionym wzroku.

2Specyfikacja: