IEC 60884-1 rys. 41 Aparatura do badania ciśnienia w wysokiej temperaturze do badania obudowy izolacyjnej

IEC 60884-1 rys. 41 Aparatura do badania ciśnienia w wysokiej temperaturze do badania obudowy izolacyjnej

1Wprowadzenie

Urządzenie do badania ciśnienia w wysokiej temperaturze jest zgodne z normą IEC 60884-1 pkt 30.1 rysunek 41, IEC 60598-2-20 pkt 20.15, EN60811-3-1 i GB2099.1-2008 pkt 30.1, rysunek 41 itp. It’s used to the high temperature resistance test of the material of pin-insulating sleeves which occurred in conditions approaching bad connection conditions and at low temperatures in particular conditions of serviceUrządzenie składa się z półki do badania twardości, okrągłego ostrza, prostokątnego ostrza i ciężaru obciążenia.urządzenie z próbką jest utrzymywane przez 2 godziny w komorze grzewczej w temperaturze 200±5°C, próbkę wyjmuje się z aparatu w ciągu 10 sekund i chłodzi przez zanurzenie w zimnej wodzie,grubość izolacji pozostałej w punkcie odcisku jest zmierzona i nie może być zmniejszona o więcej niż 50% od pierwotnej wartości mierzonej na początku badania,.

2. Parametry