Video Channel of China Pego Electronics (Yi Chun) Company Limited
Czat Skontaktuj się z nami
Home Filmy Playlist Website

Urządzenie do badań ciśnienia wysokiej temperatury, wtyczki IEC60884-1, rys. 41 z obudową izolacyjną

Inne filmy
September 24, 2024
Category Connection: Plug Socket Tester
Czat Skontaktuj się z nami
Tags:
#sprzęt do sprawdzania momentu obrotowego #tester wtyczek elektrycznych #tester gniazd elektrycznych
Brief: Discover the High Temperature Pressure Test Apparatus Plug Pins IEC60884-1 Figure 41 with Insulating Sleeves, designed for testing the high temperature resistance of pin-insulating sleeves. This apparatus complies with IEC60884-1, IEC60598-2-20, EN60811-3-1, and GB2099.1-2008 standards, ensuring accurate and reliable results for material testing under extreme conditions.
Related Product Features:
  • Complies with IEC60884-1, IEC60598-2-20, EN60811-3-1, and GB2099.1-2008 standards.
  • Tests high temperature resistance of pin-insulating sleeves under bad connection conditions.
  • Includes hardness test rack, round blade, rectangular blade, and load weight.
  • Works with a heating cabinet for precise temperature control.
  • Przyłożenie siły 2,5 N do próbek za pomocą ostrza w celu precyzyjnych testów.
  • Maintains specimens at 200±5℃ for 2 hours during testing.
  • Measures remaining insulation thickness after cooling in cold water.
  • Ensures insulation thickness reduction does not exceed 50% of original value.
Pytania:
  • What standards does the High Temperature Pressure Test Apparatus comply with?
    The apparatus complies with IEC60884-1, IEC60598-2-20, EN60811-3-1, and GB2099.1-2008 standards.
  • Jaki jest cel urządzenia do badania wysokiej temperatury i ciśnienia?
    Stosuje się go do testowania wysokiej odporności na temperaturę osłon izolacyjnych w warunkach symulujących złe połączenia i niskie temperatury.
  • What components are included with the test apparatus?
    The apparatus includes a hardness test rack, round blade, rectangular blade, and load weight for comprehensive testing.
  • How long is the specimen maintained at high temperature during the test?
    The specimen is maintained at 200±5℃ for 2 hours during the test to ensure accurate results.
Powiązane filmy
UL Zespolone sondy z zatrzymaniem sieciowym w celu badania dostępności 00:28

UL Zespolone sondy z zatrzymaniem sieciowym w celu badania dostępności
Badanie próby palca
February 28, 2025
IEC60061-3 Mierniki klapy i uchwytu światła 00:59

IEC60061-3 Mierniki klapy i uchwytu światła
Światłowody i mierniki lampki
November 19, 2024
sonda badawcza C z silnikiem napędowym lub bez niego 00:11

sonda badawcza C z silnikiem napędowym lub bez niego
Badanie próby palca
January 10, 2024
Przenośna dysza rozpylająca do weryfikacji IPX3 i IPX4 - IEC60529 00:55

Przenośna dysza rozpylająca do weryfikacji IPX3 i IPX4 - IEC60529
Environment Testing Equipment
January 17, 2025
Ręcznie sterowany 0,14J do 1J uniwersalny sprężynowy urządzenie do badania młotkiem IEC62262 00:33

Ręcznie sterowany 0,14J do 1J uniwersalny sprężynowy urządzenie do badania młotkiem IEC62262
Urządzenia do badania uderzeń mechanicznych
February 12, 2025
IEC60529 IPX5 IPX6 Komora testowa dysz wodnych 00:26

IEC60529 IPX5 IPX6 Komora testowa dysz wodnych
Environment Testing Equipment
May 30, 2023
Proba palca małych dzieci IEC61032 Proba próby 18 z uchwytem rozszerzającym 00:11

Proba palca małych dzieci IEC61032 Proba próby 18 z uchwytem rozszerzającym
Badanie próby palca
August 29, 2024
Sonda badawcza 11 Niepołączona sonda z napędem 50N jest zgodna z normą IEC61032 00:12

Sonda badawcza 11 Niepołączona sonda z napędem 50N jest zgodna z normą IEC61032
Badanie próby palca
February 22, 2024
Zestawy do badań kodów IP-IP1X, IP2X, IP3X, IP4X 00:32

Zestawy do badań kodów IP-IP1X, IP2X, IP3X, IP4X
Badanie próby palca
January 10, 2025
IEC60884-1 Rysunek 20 Aparatura do badania zatrzymywania przewodu 00:39

IEC60884-1 Rysunek 20 Aparatura do badania zatrzymywania przewodu
urządzenia do badania wtyczek i gniazdek
November 19, 2024